X射线光电子能谱(XPS光谱)或用于化学分析的电子能谱(ESCA)

X射线光电子能谱(XPS光谱) 也称为化学分析电子能谱 (ESCA). X射线光电子能谱 用于确定定量的原子组成和化学。 这是一个 表面分析 采样体积从表面延伸到大约 50-100 Å 的深度的技术。 XPS 光谱也可用于溅射深度分析。 这对于通过将矩阵级元素量化为深度的函数来表征薄膜很有用。

XPS光谱学是一种元素分析技术。 这在提供被检测元素的化学状态信息方面也很独特。 很好的用途是区分硫酸的硫酸盐形式和硫化物形式。 该过程通过向样品照射 单色X射线。 这导致光电子的发射,其能量是采样空间内元素的特征。

智能图表

 
 
XPS光谱SMART图表

XPS光谱仪是我们的一部分 智能图表系列. XPS 光谱可以检测和量化除 H 和 He 之外的所有元素,并提供化学状态信息,使其成为一种强大的调查分析技术。

X 射线穿透样品几微米深并迫使电子离开样品。 因此,只有顶部 100 埃的电子才有足够的能量到达 XPS 探测器。

XPS光谱

首先,XPS 光谱学通常从以最高灵敏度查看全能量范围扫描的调查开始。 因此,我们可以识别和量化表面元素。 其次,我们通常使用高分辨率 XPS 分析来确定键合状态,其中我们以更高的能量分辨率使用窄扫描。 这可以从峰位置和峰形确定化学键合状态。 最后,为了确定薄膜成分,深度剖面分析很有用,因为它可以查看原子成分。

EAG 在各种应用中使用 X 射线光电子能谱来帮助各行各业的客户。 例如,通过研发、工艺开发/改进和 故障分析.

XPS光谱 例子

XPS分析的示例包括:

  • 识别污渍和变色
  • 表征清洁过程
  • 分析粉末和碎片的成分
  • 确定污染源
  • 在处理之前和之后检查聚合物功能以识别和量化表面变化
  • 获得基质水平成分和污染物的薄膜叠层(导电和非导电)的深度剖面(低至%%水平)
  • 评估样品之间氧化物厚度的差异
  • 测量硬盘上的润滑剂厚度

XPS光谱 总结

理想的用途

  • 首先,对有机和无机材料、污渍或残留物进行表面分析
  • 其次,从表面确定成分和化学状态信息
  • 三、薄膜成分的深度剖析
  • 此外,薄膜氧化物厚度测量(SiO2,Al2O3)

XPS的优势

  • 表面上的化学状态识别
  • 识别除H和He之外的所有元素
  • 定量分析,包括样品之间的化学状态差异
  • 适用于多种材料,包括绝缘样品(包括纸、塑料和玻璃)
  • 基质水平浓度的深度剖析
  • 氧化物厚度测量

XPS局限性

  • 首先,检测限通常约为 0.1 at%
  • 其次,最小分析面积〜10 µm
  • 此外,有限的特定有机信息
  • 最后,样本与特高压环境的兼容性

XPS 光谱 技术规格

  • 检测到的信号:来自近表面原子的光电子
  • 检测到的元素:Li-U化学键信息
  • 检测限:0.1–1 at% 亚单层
  • 深度分辨率:20–200 Å(剖面模式); 10–100 Å(表面分析)
  • 成像/映射:是
  • 横向分辨率/探针尺寸:10 µm – 2 mm
加载XPS光谱样品

最重要的是,XPS光谱学对样品化学成分的洞察力使您能够 更快地进行产品和流程改进,使您能够缩短周期时间并节省资金。

此外,通过 EAG,您还可以使用最好的设施、仪器和科学家进行 XPS 光谱分析。 我们处理来自多个行业的许多不同材料,这为我们提供了非常广泛的经验。 最后,我们的一对一服务可确保您收到所有问题的答案。

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