X射线光电子能谱（XPS光谱）或用于化学分析的电子能谱（ESCA）

X射线光电子能谱（XPS光谱） is 也称为化学分析电子光谱（ESCA）. X射线光电子能谱 用于确定定量的原子组成和化学。 这是一个 表面分析 采样体积从表面延伸到大约50-100Å的深度。 XPS光谱学还可用于溅射深度分析。 通过量化作为深度函数的矩阵级元素来表征薄膜很有用。

XPS光谱学是一种元素分析技术。 这在提供被检测元素的化学状态信息方面也很独特。 很好的用途是区分硫酸的硫酸盐形式和硫化物形式。 该过程通过向样品照射 单色X射线。 这导致光电子的发射，其能量是采样空间内元素的特征。

智能图表

XPS光谱仪是我们的一部分 智能图表系列。 XPS光谱仪可以检测和定量除H和He以外的所有元素，并提供化学状态信息； 使其成为强大的调查分析技术。

X射线穿透几微米深的样品，并迫使电子从样品中出来。 因此，只有排名前100的阿姆斯特朗电子有足够的能量才能到达XPS检测器。

首先，XPS光谱学通常以“勘测”开始，该勘测以最高灵敏度观察全能量范围扫描。 因此，我们可以识别和量化表面元素。 其次，我们通常使用高分辨率XPS分析来确定键合状态，在这种情况下，我们使用窄扫描以更高的能量分辨率进行分析。 这可以从峰的位置和峰的形状确定化学键的状态。 最后，要确定薄膜成分，深度剖面分析很有用，因为它着眼于原子成分。

EAG在各种应用程序中使用X射线光电子能谱，以帮助各个行业的客户。 例如，通过研发，过程开发/改进以及 故障分析.

XPS光谱 例子

XPS分析的示例包括：

• 识别污渍和变色
• 表征清洁过程
• 分析粉末和碎片的成分
• 确定污染源
• 在处理之前和之后检查聚合物功能以识别和量化表面变化
• 获得基质水平成分和污染物的薄膜叠层（导电和非导电）的深度剖面（低至％％水平）
• 评估样品之间氧化物厚度的差异
• 测量硬盘上的润滑剂厚度

XPS光谱 总结

理想的用途

• 首先，对有机和无机材料，污渍或残留物进行表面分析
• 其次，从表面确定组成和化学状态信息
• 第三，深度剖析薄膜成分
• 另外，薄膜氧化物厚度测量（SiO₂，Al₂O₃)

XPS的优势

• 表面上的化学状态识别
• 识别除H和He之外的所有元素
• 定量分析，包括样品之间的化学状态差异
• 适用于各种材料，包括绝缘样品（包括纸张，塑料和玻璃）
• 基质水平浓度的深度剖析
• 氧化物厚度测量

XPS局限性

• 首先，检测极限通常约为0.1 at％
• 其次，最小分析面积〜10 µm
• 此外，有限的特定有机信息
• 最后，样品与特高压环境的兼容性

XPS 光谱 技术规格

• 检测到的信号：来自近表面原子的光电子
• 检测到的元素：Li-U化学键信息
• 检测限：0.1 – 1 at％的亚单分子层
• 深度分辨率：20 –200Å（仿形模式）； 10 –100Å（表面分析）
• 成像/映射：是
• 横向分辨率/探针尺寸：10 µm – 2 mm

最重要的是，XPS光谱学对样品化学成分的洞察力使您能够 更快地进行产品和流程改进，使您能够缩短周期时间并节省资金。

此外，借助EAG，您还可以使用最佳的设备，仪器和科学家来进行XPS光谱分析。 我们处理来自多个行业的许多不同材料，为我们提供了广泛的经验。 最后，我们的人对人服务确保您将收到所有问题的答案。