扫描声学显微镜 (SAM) 使用声波来检测和识别设备、组件和材料中的内部分层、空隙、材料密度变化、缺陷和许多其他异常。
SAM 对分层和材料密度变化的存在高度敏感,使用 X 射线照相、红外成像和其他非破坏性技术很难检测到这些。 它可以检测亚微米气隙,缺陷分辨率约为 5 µm。
EAG 提供各种成像模式,使操作员能够根据样品内特征的方向获得最佳观察视角。 此外,EAG 的 SAM 系统结合了先进的软件、硬件功能和各种传感器,这使得 EAG 能够为我们的客户提供最好的 成像 在市场上。
为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。
要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.