为了消除由化学反应(腐蚀)引起的微电子部件的故障,必须知道该部件的内部气体成分。 MIL-STD-883,MIL-STD 750,方法1018通常是内部水蒸气含量的公认规范。 残留气体分析(RGA)测试方法定义了RGA设备校准和设备测试的程序,以及内部水蒸气含量的最大可接受限值。 EAG实验室作为DLA(国防后勤局)实验室具有多年的经验,适用于MIL-STD-883,750,方法1018。
什么是残余气体分析?
RGA不仅仅适用于水分含量分析。 EAG的RGA测试系统可以检测高达140 AMU的所有质量,从而可以识别和量化常见气体。 可以分析过程气氛样品和不寻常的密封环境以检测气体的释放或再吸收。 系统软件可以确定组分中的水分含量以及整个气体谱。
除了提供常规的RGA分析外,EAG还具有技术专长,可以识别“问题”内部气体的来源并根据需要提供纠正措施。 根据我们在RGA测试方面多年的经验,我们可以为过程改进提供咨询 洛杉矶 和 柯林斯堡 位置。
电子组件的寿命遵循可预测的趋势。 许多部件在很早的时候就过早失效(“婴儿死亡率”)。 一旦超过了初始故障阶段,它们通常会以很低的故障概率长时间运行。
高可靠性电子元件通常需要长时间运行,几乎没有或没有机会更换。 轨道卫星就是这种情况的一个很好的例子。 满足“空间使用”要求的部件也用于更换困难和/或故障会产生很大风险的应用中。
婴儿死亡率问题可以通过在制造过程中实施严格的质量控制来解决。 金属化的 SEM 检查、玻璃化分析、彻底的预盖检查、电老化和 DPA 程序将确定各自的问题。 老化故障通常与瞬态现象(例如 ESD 或 EOS)、机械冲击、热偏移或化学反应(例如腐蚀)有关。
EAG提供的其他MIL-STD-883测试:
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