低温透射电子显微镜（Cryo-TEM）

Cryo-TEM涉及进行透射电子显微镜TEM分析，同时将样品保持在低温温度，即-170℃（或103 K）。

透射电子显微镜（TEM） 是一种使用电子束对样品进行成像的技术。 高能电子 (80-200 keV) 穿过电子透明样品（~100 nm 厚）并在平面上成像。

使用低温的主要原因是

• 对薄的冷冻悬浮液切片的研究，允许对处于分散状态的颗粒进行形态学研究。
• 通过电子束减少样品加热，从而减少敏感材料的潜在束损伤
• 研究结晶材料的低温相

使用Vitrobot TM样品制备工具，专用的低温样品转移单元和低温TEM样品架实现薄（~100 nm）切片冷冻水分散体（'玻璃化冰层'）的生产。

低温TEM的理想用途

• 脂质体，聚合物囊泡，乳液的胶体分散体
• 分散体中粒子聚集的研究
• 电子束敏感样品
• 低温晶相研究

我们的强项

• 允许在水分散体中成像近自然状态的软物质
• 允许对太光束敏感的材料进行成像

限制

• 水分散体的样品制备需要针对不同样品类型进行方法开发，因为它非常依赖于颗粒浓度，颗粒大小和材料粘度
• 玻璃化冰层的样品厚度由粒径决定。 因此，样品的透明度限制了几百纳米的粒径
• 能量色散X射线光谱（EDS）分析的分析时间受到限制，因为即使在低温下，冷冻水层的光束引起的升华也是如此

低温TEM技术指标

• 检测到的信号： 传输电子
• 检测到的元素： BU（带EDS）
• 检测限： 1 at％
• 成像/制图： 是（使用EDS）