粒子分析服务

EAG实验室的粒子分析和粒子识别服务可以帮助您确定产品问题的根本原因并评估纠正措施。 颗粒材料通常出现在原材料,过程中样品和成品中。

EAG的科学家已经确定了涂料,塑料,食品,消费品,化学品,药品,医疗器械,半导体,消费品,添加剂,粘合剂等中(或上面)发现的多种微粒。

我们的粒子分析服务实验室已经确定了以下材料:

  • 黑色斑点在白色粉末
  • 在一瓶药丸的粒子
  • 颗粒在一瓶液体中的精细悬浮液
  • 表面污染

EAG实验室已发展出专业知识,可通过单独的和组合的成分分析技术结合专家数据解释来识别和鉴定未知来源的颗粒。 我们已经开发了FTIR,LC-MS和GC-MS光谱的专有库,以加快颗粒鉴定研究的速度。

我们使用了许多不同的颗粒分析技术,包括傅立叶变换红外光谱(FTIR),拉曼光谱,俄歇电子能谱,X射线光电子能谱(XPS),X射线荧光(XRF)和扫描电子显微镜-能量色散X-射线光谱法(SEM-EDS)。

一旦我们确定了颗粒材料的化学性质,通过进一步的材料表征可以更好地理解组成。

通过粒子分析,我们帮助客户:

  • 确定已识别材料的潜在来源
  • 比较两种不同颗粒的化学成分
  • 确认可疑材料的身份

选择的技术 成分分析 取决于很多因素:

  • 对样品有什么了解?
  • 需要量化的是什么(主要元素,次要元素,化学成分或分子/有机成分)?
  • 可以使用破坏性测试方法吗?
  • 样品是否独一无二?

表面分析

元素和化学表面成分最好使用具有较浅信息深度(<100Å)的定量技术进行测量,例如俄歇电子能谱(仅适用于导电材料)或X射线光电子能谱(所有材料)。

批量分析

最好使用具有较大/较深信息深度的技术来确定体相成分,该技术可忽略表面/表面的潜在成分变化。 这些方法通常无法提供特定于深度的信息。 X射线荧光(XRF)和扫描电子显微镜-能量色散X射线光谱(SEM-EDS)是可以提供元素组成的非破坏性技术。 电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)可以量化主要元素和次要元素。 傅里叶变换红外光谱(FTIR)和拉曼光谱非常适合识别塑料,聚合物和其他有机材料。

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