成分分析和材料鉴定

成分分析和材料识别方法可用于确定未知材料的成分、确认可疑材料的身份以及识别相似材料之间的差异。 未知组件通常可能是难题的根本原因，因此识别意外材料的存在非常重要。 EAG 通过使用单独的和组合的成分分析技术以及专家数据解释，开发了识别和表征未知物的专业知识。

EAG的科学家已经确定了涂料，塑料，食品，消费品，化学品，药品，医疗器械，半导体，消费品，添加剂，粘合剂等中（或上）的多种材料。 我们的实验室已经确定了以下材料：

• 表面上有未知残留物
• 未知的粒子
• 未知的有机和无机材料
• 意外的外国材料
• 未知添加剂或表面活性剂

一旦我们确定了材料的化学性质，通过进一步的材料表征就可以更好地理解组成。 有了这些信息，我们能够帮助我们的客户：

• 确定已识别材料的潜在来源
• 比较两种不同材料的化学成分
• 确认可疑材料的身份
• 从潜在竞争对手或产品的新供应商那里识别材料

成分分析的首选技术取决于许多因素：

• 对样品有什么了解？
• 需要量化什么（主要元素、次要元素、化学成分或分子/有机成分）？
• 这是表面，本体还是层分析？
• 可以使用破坏性测试方法吗？
• 样品是否独一无二？

为了了解产品的配方，EAG的逆向工程（变形）服务可帮助客户了解其产品的化学成分。 了解有关变形的更多信息。

表面分析

最好使用具有浅信息深度 (<100 Å) 的定量技术测量元素和化学表面成分，例如 俄歇电子能谱 （仅限导电材料）或 X射线光电子能谱 （所有材料）。

批量分析

散装成分最好通过具有大/深信息深度的技术来确定，这些技术忽略了表面上/表面上的潜在成分变化。 这些方法通常不提供特定于深度的信息。 X射线荧光 （XRF）和 电感耦合等离子体发射光谱 （ICP-OES）是可以量化主要和次要元素组分的最相关技术。 傅立叶变换红外光谱 （FTIR）和 拉曼光谱学 非常适合识别塑料，聚合物和其他有机材料。

薄层分析

用于分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特征。 为了定量薄膜中已知的主要元素， 卢瑟福背散射光谱法 （RBS）是首选技术。 如果感兴趣的电影的主要组成部分未知， X射线光电子能谱 （XPS）是一个不错的选择。 俄歇电子能谱 如果分析区域的尺寸受限（并且也是导电的），则可以使用（AES）。 二次离子质谱 （SIMS）具有一系列用于半导体薄膜的高精度成分测量的应用。 傅立叶变换红外光谱 （FTIR）和 拉曼光谱学 非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。

请致电 EAG 实验室的成分分析专家讨论您的项目，电话 1 800 366 3867 或填写我们的“请专家与您联系”表格。