成分分析和材料识别方法可用于确定未知材料的成分,确认可疑材料的身份并识别相似材料之间的差异。 未知的成分通常可能是造成难题的根本原因,因此识别意外材料的存在非常重要。 EAG通过结合使用单独的和组合的成分分析技术以及专家数据解释技术,在鉴定和表征未知物方面已经积累了专业知识。
EAG的科学家已经确定了涂料,塑料,食品,消费品,化学品,药品,医疗器械,半导体,消费品,添加剂,粘合剂等中(或上)的多种材料。 我们的实验室已经确定了以下材料:
一旦我们确定了材料的化学性质,通过进一步的材料表征就可以更好地理解组成。 有了这些信息,我们能够帮助我们的客户:
成分分析的首选技术取决于许多因素:
为了了解产品的配方,EAG的逆向工程(变形)服务可帮助客户了解其产品的化学成分。 了解有关变形的更多信息。
元素和化学表面成分最好使用具有浅信息深度(<100Å)的定量技术进行测量,例如 俄歇电子能谱 (仅限导电材料)或 X射线光电子能谱 (所有材料)。
批量分析
散装成分最好通过具有大/深信息深度的技术来确定,这些技术忽略了表面上/表面上的潜在成分变化。 这些方法通常不提供特定于深度的信息。 X射线荧光 (XRF)和 电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)是可以量化主要和次要元素组分的最相关技术。 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)和 拉曼光谱学 非常适合识别塑料,聚合物和其他有机材料。
薄层分析
用于分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特征。 为了定量薄膜中已知的主要元素, 卢瑟福背散射光谱法 (RBS)是首选技术。 如果感兴趣的电影的主要组成部分未知, X射线光电子能谱 (XPS)是一个不错的选择。 俄歇电子能谱 如果分析区域的尺寸受限(并且也是导电的),则可以使用(AES)。 二次离子质谱 (SIMS)具有一系列用于半导体薄膜的高精度成分测量的应用。 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)和 拉曼光谱学 非常适合从有机薄膜获得化学或分子信息。
请致电EAG实验室的成分分析专家讨论您的项目:1 800 366 3867,或完成我们的咨询专家与您联系表格。
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