薄膜分析

录制:11月8,2018

薄膜不仅在LED和集成电路等高科技应用中发挥重要作用,而且在触摸屏和钻头等日常产品中也发挥着重要作用。 这些产品的性能会受到薄膜成分,厚度,均匀性和其他性能的极大影响。 本演讲回顾了一系列可用于表征薄膜的分析技术。 该演示还将展示化学分析(例如XPS,TOF-SIMS,FTIR)如何相互配对以及如何以互补的方式与显微镜(AFM,SEM,TEM等)配对。 真实世界的例子将展示这些技术在材料/工艺开发,失效分析等方面的应用。

在本次网络研讨会中,您将学到:

  • 什么是薄膜分析,为什么有必要?
  • 审查补充分析技术
  • 薄膜分析案例研究显示真实的单词示例

关于演示者

Monica Neuburger博士拥有15多年的表面化学和材料表征经验。 她的专业领域包括 XPSTOF-SIMS 作为EAG的表面科学小组的经理,她监督着来自各个行业的项目。 她热衷于帮助客户找到解决方案,以应对涉及研发,生产监控和故障的挑战。

 

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