个人S的SIMS分析i用于精确体积浓度测量的C颗粒

应用笔记

讨论

使用特殊的样品制备技术和新的 SIMS 在分析方案中,可以分析SiC粉末样品中尺寸范围为100 um至500 um的单个SiC颗粒。 这种创新方法消除了捐款 表面污染 大量浓缩。

使用特殊的样品制备技术和新的SIMS分析方案,可以分析SiC粉末样品中尺寸范围从100 um到500 um的单个SiC颗粒。 这种创新方法消除了表面污染对体积浓度的影响。

 


 

来自同一批粉末样品的两种不同SiC颗粒的N曲线。 这两种颗粒的SIMS结果显示出良好的批量浓度一致性。

来自同一批粉末样品的两种不同SiC颗粒的N曲线。 这两种颗粒的SIMS结果显示出良好的批量浓度一致性。

来自同一批粉末样品的两种不同SiC颗粒的N曲线。 这两种颗粒的SIMS结果显示出良好的批量浓度一致性。

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