α-Si, μC-Si 薄膜光伏

应用笔记

非晶Si(α-Si),微晶Si(μc-Si),纳米晶Si(nc-Si),非晶SiGe(α-SiGe)和微晶SiC(μc-SiC)都带有H,是薄膜材料,可以组成薄膜PV堆栈,从简单的α-Si薄膜到更复杂的串联和多结薄膜。 α-Si一直是最古老的薄膜之一 光伏商业技术,但在光诱导降解后具有相对低的电池效率。 添加其他薄膜材料旨在通过转换更多的太阳光谱和减少光诱导的降解来提高效率。

主要的改进领域是稳定的效率提高到10%,并扩大到可靠和统一的大规模制造。

α-Si薄膜PV(所有组合薄膜的通用名称)的示意图说明了一些方法 表面分析 可以提供帮助。

α-Si薄膜PV(所有组合薄膜的通用名称)的示意图说明了表面分析可以提供帮助的一些方法。

在原理图的左侧,我们看到了各种分层结构的复合材料。 光从顶部通过玻璃盖进入并穿过透明导电氧化物(TCO)SnOx:F,ZnO:Al或ZnO:B。 然后,在α-Si:H,μc-Si:H,nc-Si:H,α-SiGe:H,μc-SiC:H的各种层中吸收光,这取决于电池的设计; 通过在沉积过程中添加B或P来完成掺杂以形成pn结。 在吸收层下面还有另一个TCO,然后是背面接触,例如Ag或Al。 这全部支撑在基底上,基底可以是不锈钢箔,聚酰亚胺或玻璃。 整个堆叠(除玻璃外)几微米厚。

在原理图的右侧,我们看到了表面分析技术的一些示例应用。 厚度和 组成 上TCO的特征可以表征为 苏格兰皇家银行, XRR or XPS,结晶度和相 XRD通过XPS或TCO与TCO和第一α-Si:H层之间的污染 AES。 大气(O,C,N,H),掺杂剂(B,P)和F以及金属污染的元素分布可以通过以下方式分析: SIMS。 吸收层中的结晶度分数可由下式确定 拉曼 或XRD。 层厚度,界面结构和晶粒结构可以通过确定 TEM,STEMSEM 对于吸收层,较低的TCO和金属接触。 故障分析 可以得到支持 FTIR, GCMS, TOF-SIMS,TEM,STEM / EDS,SEM, EDS,XPS,AES和拉曼。

为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。

要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.