HALT(High Accelerated Life Testing)は、製品の設計上の弱点やコンポーネントの弱点を見つけることに重点を置いた、加速製品信頼性試験方法です。 開発中にHALTテストを組み込むと、製品開発の合計時間が短縮され、製品の発売後にコストのかかるフィールドの問題になる前に、障害を見つけて修正できます。 HALTテスト中、製品は、関心のある部分の疲労を加速するために一連の過大応力にさらされます。 サンプルは、通常の動作条件のはるか外でテストされます。 HALTテストは、迅速かつ効率的な方法で設計検証をサポートし、数週間または数か月ではなく数日で障害メカニズムを明らかにすることができます。
HALTテストは、さまざまな潜在的パラメータを介して製品にストレスをかけることに基づいています。 HALTテストは通常、次の5つのテストに基づいています。
MEOST (Multiple Environment Overstress Testing)テストは、対象製品が市場に出される前にその製品の堅牢性を証明するために使用されます。 MEOSTは、設計仕様を超えて、既知の破壊的限界(HALTテストによって定義または以前に決定された)内で製品に可能な限りストレスをかけるテスト方法です。 応力の組み合わせは、製品の故障につながる可能性のある相互作用を作成するために適用されます。 MEOSTは、動的な電気入力および出力パラメータと組み合わせて環境ストレスを利用します。
MEOSTテストは、通常の使用中に製品がさらされる環境シナリオとユースケースシナリオの組み合わせに製品をさらすことに基づいています。 MEOSTテストでは、次のガイドラインに従います。
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