汚染物質の同定

汚染が想定・対処されていないと、製造プロセスでは劇的な影響を受ける可能性があるため、汚染を迅速に理解して制御することが重要です。 EAGの科学者は、 材料特性評価技術 を用いて、汚染物質を調べて同定し、汚染源の特定、汚染物質の除去/洗浄の有効性の測定する専門家です。

適切な手法または分析アプローチの選択は、汚染イベントの状況、汚染物質の性質、および分析の目的によって異なります。

  • 汚染物質は有機または無機であると予想されますか?
  • 大量の汚染が予想されますか、それともわずかですか?
  • 汚染は広範囲、局所、または粒子状であると予想されますか?
  • 表面、特定の層、界面、または材料の大部分に存在することが想定されますか?
  • 汚染物質の存在は微量レベルの汚染でも重要ですか?または、ある一定のレベル以上でのみで重要ですか?
  • 汚染物質の現れ方が、時間または場所に依存する側面はありますか?

多くの場合、未知の汚染物質を完全に特定するには、戦略的、技術的、学際的なアプローチが必要です。 対照サンプルと疑わしいサンプルの比較研究の使用も役立つ(または必要な)場合があります。 具体的な技術的アプローチは、サンプルマトリックスと疑わしい汚染レベルによって異なります。 識別が完了すると、 同定が完了すると、EAGの科学者は、他の方法または既存のデータの定量化により、サンプルマトリックス内の汚染物質をさらに定量化できます。

典型的な汚染調査および同定プロジェクトとしては、異臭/臭気の調査、変色の問題、または製品内の異物粒子などが挙げられます。汚染源の一部は、環境、製品の不適切な保管、または原材料の品質不良に起因しています。私たちは、汚染源を追跡し、現実的な是正措置プログラムを開発するために、顧客と密接に協力します。

下のリストは、多くの異なる種類の汚染とそれらに対処するための必要となる技術です。汚染の種類によって、評価技術うまく適用できるかどうかが決決まります。汚染についてほとんど知られていない場合、または成分の混合物である場合など、場合によっては、技術を組み合わせて適用することが必要になることがあります。

  • 粒子:SEM、EDS、オージェ、FTIR、ラマン、TOF-SIMS
  • 残留物:オージェ、FTIR、XPS、TOF-SIMS
  • 変色/染色:XPS、オージェ、TOF-SIMS、FTIR
  • ヘイズ:SEM、AFM、OP、TOF-SIMS、XPS
  • 層:SEM-EDS、XPS、オージェ、SIMS、TOF-SIMS
  • バルク:XPS、ICP-OES、ICP-MS、GDMS、XRF、FTIR
  • 臭気:GCMS

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