ATE(Automated Test Equipment)テストおよびエンジニアリング

EAG Laboratoriesは、半導体テストのニーズと課題の解決のための、ツール、機器、優秀なATEテストエンジニアリングスタッフにより最適なサービスを提供し、 期限内に目標を達成します。ある限定された範囲のプロジェクトでも完全なターンキーソリューションにおいても、データシートを分析し、包括的なテスト計画を提供します。

幅広いATEテスト機器と経験豊富なチームが、ウェーハレベル試験車やパッケージ部品の試験など、デジタルからRFまでの幅広い製品について、試作品の修正から大量生産品のリリースまでをサポートできます。 テストプラットフォームには、 テラダインとアドバンテストがあります。

  • 年中無休で稼働するエンジニアリングおよび試験ラボ
  • オンライン予約システム
  • 大規模で経験豊富なエンジニアリング、技術、および生産のサポートチーム
  • 周辺機器、温度制御ユニット、プローバ、ハンドラーなどを大量に保有

ATE生産サービス

  • 幅広いプロダクションサービス:
    EAGのプロダクションサービスは、低コスト、迅速なインデックス時間、より良い歩留まり試験ソリューションをお客様に提供します。私たちはあなたの業務に機器と資格のあるオペレーターを提供し、それを選んで利用することができます。 EAGは、最終テスト、ウエハーソート、ボール/リードスキャン、テスト後マーキング、テープアンドリール、ベークアンドドライパック、品質管理システム、ドキュメント管理、アーカイブデータ、歩留まり、ビニング、統計、および生産のための完全な製品エンジニアリングサポートを提供します。個々に特化して地域の事情に適したサポートにより、生産性を高め、コストを最小限に抑えることができます。
  • 幅広いテスター:
    EAGは、ATEテスト機器の容量を拡張したため、クライアントは、Teradyne™、Advantest、Eagleのテスターで知っているツールにアクセスできます。 EAGは、さまざまなパッケージとピン数でデジタル、ミックスドシグナル、RFデバイスをテストするためのニーズを満たすことができます。 プラットフォームを選択すると、ニーズに合ったレベルのサービスが提供されます。 社内チームを使用するか、独自のエンジニアを使用してください。

ATE開発サービス

製品についてある特定のテストを実施することもできます。また、EAGはあなたの要件を満たすため完全なターンキーソリューションプロバイダーであり、すべてのテストサービスをアウトソーシングすることを検討することもできます。EAGの専門ATE開発サービスは包括的であり、標準化されたテスト開発モジュールを利用して、費用対効果、効率、および迅速な開発時間を提供します。

当社には、高速デジタル、ミックスドシグナル、RF、および複雑なSOC製品に精通した製品およびテストエンジニアがいます。 当社の社内PCBチームは、複雑なハードウェアを処理し、ボード設計をロードすることができます。 まず、製品とデータシートの確認、製品のパラメーターと仕様に基づいて必要なテストの決定、そして適切なテスタープラットフォームの選択に加えてテスト計画を立てることから始めます。

以下のATE開発サービスをお手伝いします。

  • テスト計画の開発
  • ロードボードの設計
  • テストプログラム開発
  • テストプログラムとデバイスデバッグ
  • エキスパートプロジェクト管理
  • 新製品の電気的特性評価
  • テスト制限の評価
  • テスト時間の最適化
  • テストのコスト削減
  • ベクトル変換
  • マルチサイト変換
  • プラットフォーム変換
  • その他の顧客要望によるプロジェクト
テラダインテストシステム

ロジック、RF、アナログ、ミックスドシグナル、メモリテクノロジーなど、テストのニーズをサポートする最新のテラダインテストシステムがあります。 これらのシステムは、さまざまなエンドアプリケーションで使用される複雑な高速/高周波ICに対して、単純なローエンドデバイスをテストします。 テスターのFLEXファミリーにはアーキテクチャが組み込まれており、幅広いデバイスと市場に効率と柔軟性を提供します。

当社のTeradyneテストプラットフォームには以下が含まれます。

  • Catalyst RF
  • Ultraflex-24
  • Iflex
  • IP750
  • J750
  • J750EX
  • ETS-364
アドバンテストテストシステム

また、DC、アナログ、デジタル、メモリなどのテストニーズに対応するための最新のAdvantestテストシステムもご用意しています。 当社のV93000システムを使用すると、単純なローエンドデバイスからさまざまなエンドアプリケーションで動作する複雑な高速/高周波ICをテストできます。 V93000は、変化するテスト要件に適応し、ハードウェアとテストプログラムを最大限に再利用できるように、スケーラブルなプラットフォームアーキテクチャとモジュール設計で構築されています。

当社のアドバンテストテストプラットフォームには以下が含まれます。

  • V60
  • V93000ピンスケール
  • V93000 SoC /スマートスケール

特定の機能を有効にして私たちとのあなたの経験を向上させるために、このサイトはあなたのコンピュータにクッキーを保存します。 続行をクリックして承認を与え、このメッセージを完全に削除してください。

詳細については、当社を参照してください。 プライバシーポリシーをご覧ください。.