ATE(Automated Test Equipment)テストおよびエンジニアリング

EAG Laboratoriesは、半導体テストのニーズと課題の解決を支援するATEテストエンジニアリングスタッフのリソース、ツール、機器、および才能を提供する最適化されたサービスを提供します。 期限内に目標を達成します。ある限定された範囲のプロジェクトでも完全なターンキーソリューションにおいても、データシートを分析し、包括的なテスト計画を提供します。

幅広いATEテスト機器と経験豊富なチームが、ウェーハレベル試験車やパッケージ部品の試験など、デジタルからRFまでの幅広い製品について、試作品の修正から大量生産品のリリースまでをサポートできます。 テストプラットフォームには、 テストプラットフォームには、Teradyne™とAdvantestが含まれます。

  • 年中無休で稼働するエンジニアリングおよび試験ラボ
  • オンライン予約システム
  • 大規模で経験豊富なエンジニアリング、技術、および生産のサポートチーム
  • 周辺機器、温度制御ユニット、プローバ、ハンドラーなどを大量に保有

ATE生産サービス

  • 幅広いプロダクションサービス:
    EAGの生産サービスは、お客様に低コスト、より速いインデックス時間、および改善されたテスト歩留まりソリューションを提供します。 利用可能な幅広いサービスから選択することができ、私たちはあなたのプログラムのための機器と資格のあるオペレーターを提供します。 EAGは、最終テスト、ウェーハソート、ボール/リードスキャン、テスト後のマーキング、テープとリール、ベイクとドライパック、品質管理システム、ドキュメント管理、アーカイブデータ、歩留まり、ビニング、統計など、幅広いサービスを提供します。生産のための完全な製品エンジニアリングサポート。 パーソナライズされたローカルフォーカスによるサポートは、生産性を高め、コストを最小限に抑えるのに役立ちます。
  • 幅広いテスター:
    EAGはATEテスト機器の容量を拡張したため、クライアントは、Teradyne™、Advantest、Eagleのテスターで知っているツールにアクセスできます。 EAGは、さまざまなパッケージとピン数でデジタル、ミックスドシグナルおよびRFデバイスをテストするためのニーズを満たすことができます。 プラットフォームを選択すると、ニーズに合ったレベルのサービスが提供されます。 社内チームを使用するか、独自のエンジニアを使用してください。

ATE開発サービス

単一の製品をテストする場合でも、すべてのテストサービスをアウトソーシングすることを検討している場合でも、完全なターンキーソリューションプロバイダーとして、EAGは要件を満たします。 EAGのプロフェッショナルなATE開発サービスは包括的であり、標準化されたテスト開発モジュールを利用して、費用効果、効率、および迅速な開発時間を提供します。

当社には、高速デジタル、ミックスドシグナル、RF、および複雑なSOC製品の経験を持つ製品およびテストエンジニアがいます。 社内のPCBチームは、複雑なハードウェアとロードボードの設計を処理できます。 製品とデータシートのレビューから始め、製品のパラメータと仕様に基づいて必要なテストを決定し、適切なテスタープラットフォームを選択することに加えて、テスト計画を策定します。

以下のATE開発サービスをお手伝いします。

  • テスト計画の開発
  • ロードボードの設計
  • テストプログラム開発
  • テストプログラムとデバイスデバッグ
  • エキスパートプロジェクト管理
  • 新製品の電気的特性評価
  • テスト制限の評価
  • テスト時間の最適化
  • テストのコスト削減
  • ベクトル変換
  • マルチサイト変換
  • プラットフォーム変換
  • その他の顧客要望によるプロジェクト
テラダインテストシステム

ロジック、RF、アナログ、ミックスドシグナル、メモリテクノロジーなど、テストのニーズをサポートする最新のテラダインテストシステムがあります。 これらのシステムは、さまざまなエンドアプリケーションで使用される複雑な高速/高周波ICに対して、単純なローエンドデバイスをテストします。 テスターのFLEXファミリーにはアーキテクチャが組み込まれており、幅広いデバイスと市場に効率と柔軟性を提供します。

当社のTeradyneテストプラットフォームには以下が含まれます。

  • Catalyst RF
  • Ultraflex-24
  • Iflex
  • IP750
  • J750
  • J750EX
  • ETS-364
アドバンテストテストシステム

また、DC、アナログ、デジタル、メモリなどのテストニーズに対応するための最新のAdvantestテストシステムもご用意しています。 当社のV93000システムを使用すると、単純なローエンドデバイスからさまざまなエンドアプリケーションで動作する複雑な高速/高周波ICをテストできます。 V93000は、変化するテスト要件に適応し、ハードウェアとテストプログラムを最大限に再利用できるように、スケーラブルなプラットフォームアーキテクチャとモジュール設計で構築されています。

当社のアドバンテストテストプラットフォームには以下が含まれます。

  • V93000
  • V93000ピンスケール
  • V93000 SoC /スマートスケール

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