Hで選択された元素のSIMS検出限界gCdTe 通常の深度プロファイリング条件下

アプリケーションノート

考察

SIMS HからUまでのすべての元素を優れた感度で検出できる強力な分析技術です。 この表は、大気中の不純物の典型的な検出限界のリストを示しています。 HgCdTe 法線深度プロファイリング条件の行列。 ケースバイケースの状況で最適な分析条件下で多くの種に対してより低い検出レベルを得ることができる。

SIMSは、HからUまでのすべての元素を優れた感度で検出できる強力な分析技術です。 この表は、通常の深さプロファイリング条件に対するHgCdTeマトリックス中の不純物の典型的な検出限界のリストを示しています。 ケースバイケースの状況で最適な分析条件下で多くの種に対してより低い検出レベルを得ることができる。

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