電子後方散乱回折（EBSD）はSEMの電子ビームを使用して材料の微細構造をナノスケールで観察し、疲労、破壊強度、耐食性、クリープ、延性、硬度などの重要な特性への洞察を提供します。

EAGは、新しい分析機能を追加し続け、粒子分析を必要とするお客様が、粒子の広範な分散全体をより適切に識別および測定できるようにします。 自動車、航空宇宙、および半導体メーカーは、EAGの科学的専門知識を利用して、この新しい機能を備えた包括的なレポートを提供できます。

Eurofins EAG Materials Scienceは、Applied Spectraと共同で、ニューヨーク州シラキュースで開催されたレーザー誘起破壊分光法およびレーザーアブレーションICP-MSアクティブラーニングワークショップに登録することを誇りに思っています。