Spectroscopie de rupture induite par laser (LIBS)

La spectroscopie de rupture induite par laser (LIBS) est un puissant analyse chimique technique qui combine un micro-échantillonnage laser automatisé avec un spectrographe d'émission optique pour caractériser l'abondance relative des éléments et la distribution des éléments dans les échantillons solides.

LIBS utilise un laser pulsé à haute énergie focalisé pour éliminer des nanogrammes en picogrammes de matériau lorsque le laser passe sur une surface d'échantillon. Le laser provoque la formation d'un micro-plasma qui atomise et ionise le matériau de l'échantillon, qui subit rapidement une expansion et un refroidissement. Pendant ce temps, les éléments atomisés et ionisés présents dans le plasma produisent des raies d'émission lumineuse caractéristiques du proche infrarouge à l'ultraviolet profond. Un spectromètre est situé au-dessus de la platine de l'échantillon et permet l'acquisition simultanée de toute la gamme de longueurs d'onde produite par tous les éléments présents. La mesure indirecte de la composition de l'échantillon par le spectromètre rend LIBS particulièrement puissant pour les échantillons sensibles à l'atmosphère et est actuellement utilisé par la NASA Mars rovers.

LIBS est particulièrement utile pour l'analyse de profondeur, car le laser peut être recentré sur le même emplacement d'une surface d'échantillon et fournir un profilage de profondeur à une résolution de 100 nanomètres par passage, en fonction de la matrice de l'échantillon. De plus, une gamme de tailles de points laser est disponible (~ 20-200 µm), et une platine d'échantillonnage motorisée à résolution inférieure au micron permet au laser de balayer une surface d'échantillon, fournissant des cartes élémentaires résolubles dans l'espace, permettant une analyse statistique multivariée . LIBS peut détecter tout élément naturel jusqu'à des niveaux de parties par million, selon la matrice d'échantillon.

Utilisations idéales du LIBS

  • Surveiller rapidement la composition chimique des matériaux solides
  • Analyse de la distribution élémentaire et cartographie à l'échelle micronique des oligo-éléments
  • Profil de profondeur  

Nos points forts

  • Analyse élémentaire directe de tous Matériau solide 
  • Analyse sans préparation préalable 
  • Aanalyse des matériaux sensibles à l'atmosphère 
  • Analyse/cartographie de la distribution spatiale
  • Tous les éléments detectable 

Limites

  • Forts effets de matrice sur les spectres d'émission 
  • Les matériaux de référence appariés à la matrice doivent être analysés avec les échantillons pour une analyse quantitative 

Spécifications techniques LIBS

  • Espèce détectée:lignes d'émission optique élémentaires  
  • Sensibilité: pièces par des millions (ppmw) 
  • Résolution en profondeur:> 0.1 um 
  • Taille de spot typique:20 - 200 um 

Pour activer certaines fonctionnalités et améliorer votre expérience avec nous, ce site stocke des cookies sur votre ordinateur. Veuillez cliquer sur Continuer pour donner votre autorisation et supprimer définitivement ce message.

Pour en savoir plus, consultez notre Politique de confidentialité.