Spectrométrie de masse à plasma induit par ablation au laser (LA-ICP-MS)

La spectrométrie de masse à plasma induit par couplage inductif par ablation au laser (LA-ICP-MS) est une technique analytique qui utilise un échantillonnage direct à petite échelle pour fournir des analyses de haute précision des isotopes élémentaires et stables de matériaux solides.

LA-ICP-MS utilise un puissant faisceau laser pulsé en nanosecondes pour éliminer le matériau de la surface d'un échantillon. L'interaction du laser et de la surface de l'échantillon provoque un échauffement, une évaporation et une ionisation du matériau de l'échantillon, dans un processus appelé "ablation au laser.” Un panache de particules et d'ions est généré puis transporté via un flux constant d'argon et/ou d'hélium gazeux vers un ICP-MS. Le matériau de l'échantillon est ensuite ionisé dans un plasma à couplage inductif, et ses espèces atomiques sont transportées sous forme d'ions, séparées et analysées en fonction de leur rapport masse/charge au fil du temps. LA-ICP-MS peut donc fournir des compositions d'éléments majeurs et traces dans un échantillon jusqu'à des limites de détection de 10 parties par milliard (ppb).

LA-ICP-MS est considéré comme extrêmement polyvalent, car les analyses peuvent être effectuées sur de nombreux matériaux solides sans aucune préparation. En fonction du système de mesure analytique, de très petites quantités d'échantillons (picogrammes en femtogrammes) peuvent être suffisantes pour une analyse d'enquête très sensible (parties par milliard). Les approches liquides traditionnelles pour l'ICP-MS nécessitent des milligrammes de masse d'échantillon pour atteindre cette sensibilité. Une gamme de diamètres de points laser (5-200 µm) est disponible, permettant de réaliser des matrices de points et de lignes sur une surface maximale de 10 cm2.

Utilisations idéales de LA-ICP-MS

  • Enquête sur l'analyse chimique des solides
  • Analyse de traçabilité
  • Analyse et cartographie de la distribution isotopique élémentaire ou stable
  • Inclusion locale et analyse des défauts
  • Analyse chimique multi-éléments spécifique à la profondeur

Nos points forts

  • Analyse élémentaire directe de seul solide matériels, indépendant de la conductivité électrique ou de la géométrie
  •  Analyse sans pré-préparation 
  • Analyse/cartographie de la distribution spatiale

Limites

  • Matériaux de référence appariés à la matrice doit être analysé avec les échantillons pour d’étiquettes électroniques entièrement analyse quantitative 

Spécifications techniques LA-ICP-MS

  • Espèce détectée: ions positifs d'isotopes stables
  • Sensibilité: parties par milliard (ppbw)
  • Résolution en profondeur: 0.1 à 1 μm
  • Taille de spot typique: 5 - 200 μm

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