Diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD)

La diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) est une technique particulièrement adaptée pour caractériser les propriétés cristallographiques de vos échantillons. Des propriétés telles que : la taille des grains, la forme des grains, l'orientation des grains, la désorientation des joints de grains, la distribution spatiale des phases, la déformation locale et la texture peuvent toutes être caractérisées par cette technique.

L'analyse EBSD est un excellent complément aux excellentes capacités de notre Diffraction des rayons X (XRD) prestations de service. Nos outils XRD et notre personnel peuvent fournir des informations sans précédent sur l'identification de phase, la taille des grains nanocristallins, l'épaisseur du film mince et les textures. les nouvelles capacités disponibles par EBSD fourniront des informations spatiales, aideront à visualiser la microstructure et compléteront une description complète de vos échantillons cristallins.

Utilisations idéales de l'EBSD

  • Visualisation de la microstructure avec des coordonnées spatiales
  • Caractérisation de la texture à des emplacements exacts tels que près de soudures ou sur des plots de liaison semi-conducteurs
  • Caractérisation de la granulométrie et de la texture en relation avec la qualité de finition des tôles d'acier et d'aluminium
  • Mesure de gros grains, sans l'erreur associée à LM
  • Caractérisation des joints de grains spéciaux, tels que les CSL et les jumeaux
  • Mesure de la désorientation du grain
  • Caractérisation de la déformation par l'examen de la désorientation intragrain et du rapport d'aspect du grain
  • Caractérisation de films minces épitaxiés
  • Caractérisation de la texture en profondeur, en examinant les sections transversales

Nos points forts

  • Mesure directe de la granulométrie
  • Capable de caractériser de manière unique les angles de limite de grain individuels
  • Peut cartographier la distribution de phase de certains matériaux
  • Peut cartographier des tailles de grains de plusieurs 10 de nm à plusieurs 10 de mm

Limites

  • Ne peut pas mesurer les matériaux amorphes
  • Capacité modérée à différencier les différentes phases

Spécifications techniques EBSD

  • Signal détecté: Électrons diffractés
  • Éléments détectés: Tous les éléments, à condition qu'ils soient présents dans une matrice cristalline
  • Limites de détection: Granulométrie> 80 nm
  • Analyse quantitative: Taille du grain et mesures connexes: ~ 10%

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