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Le diagramme EAG SMART (outil de résolution analytique de spectroscopie et de microscopie) ci-dessous offre une référence visuelle concise pour comparer les techniques analytiques. Comparez facilement les limites de détection et les résolutions analytiques de dizaines de techniques utilisées pour la caractérisation des matériaux, l'analyse de surface d'évaluation, les enquêtes de pureté et plus encore! Sélectionnez une technique pour en savoir plus ou contacter un scientifique EAG. Consultez notre Série de webinaires SMART ChartObtenez le tableau EAG SMART au format affiche!

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FIB SEM SEM-CL TOF-SIMS SIMS dynamique LÀ- ICPMS TXRF RBS XRF FTIR XRD XPS / ESCA Raman SEM / EDS vrille TIGE/ EDS TIGE/ EELS Atome Échantillon XRR DHEM Ellipsométrie GDMS Techniques ICP GC-MS, LC-MS IGA IC TGA / DTA / DSC RMN GPC AFM TEM / STEM EBIC OP RTX Nanoindentation ETV-ICP-OES LIBS EBSD Information élémentaireInformations d'imagerieInformations élémentaires et d'imageriePropriétés physiques et / ou optiquesInformations sur l'épaisseur et la densité Liaison chimique / informations moléculaires / structurellesInformations électriques (dopant actif et mobilité) © 1995-2019 Eurofins EAG Science des matériaux. Tous les droits sont réservés.

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