La diffraction à diffusion électronique du dos (EBSD) utilise le faisceau d'électrons d'un SEM pour donner une vision à l'échelle nanométrique de la microstructure d'un matériau, fournissant ainsi un aperçu des propriétés critiques telles que la fatigue, la résistance à la rupture, la résistance à la corrosion, le fluage, la ductilité et la dureté.

EAG continue d'ajouter de nouvelles fonctionnalités analytiques pour aider les clients ayant besoin d'analyse de particules à mieux identifier et mesurer une large dispersion de particules. Les fabricants d'automobiles, de l'aérospatiale et des semi-conducteurs peuvent s'appuyer sur l'expertise scientifique d'EAG pour fournir des rapports complets avec cette nouvelle fonctionnalité.

Eurofins EAG Materials Science, en association avec Applied Spectra, est fier de vous inviter à vous inscrire à notre atelier d'apprentissage actif sur la spectroscopie par éclatement au laser et l'ablation au laser ICP-MS à Syracuse, NY.